Teledyne LeCroy - 加速设计的测试解决方案

广泛的测试解决方案

我们提供广泛的测试解决方案，以帮助设计、开发和部署设备和系统。无论您是需要测试设备的物理和电气特性，还是需要查看设备之间传输的单个数据包，我们都能满足您的需求。我们的测试设备、培训和测试服务可帮助您制造更好、更安全、更可靠的产品。

大型信息显示与高级波形分析相结合的强大组合

旨在生成、捕获和分析高速通信流量，并帮助开发人员发现其产品设计中的错误和缺陷。

为帮助您实现目标而量身定制的各种测试和培训服务产品。

专为测试和验证固态硬盘 (SSD) 和计算快速链路 (CXL) 内存设备而设计，可帮助产品开发人员发现和修复难以发现的错误。

通过涵盖您所有测量需求的多种设备，帮助您满足您的测试要求。

我们制造传感器和测试设备，以帮助对新设计和安装的系统进行故障排除和优化。

我们的产品采用专利校准逻辑、最新数据转换器和 FPGA 技术来提供高采样率和分辨率。

高达 65 GHz，始终为 12 位，320 GS/s 和高达 8 Gpts 的内存。没有其他示波器能够通过更独特的工具支持更多的工程任务。

测试基于高速 PCI Express 6.x 和 CXL 3.x I/O 的应用程序，例如服务器、工作站、桌面、图形、存储、AI 和网卡应用程序。

全面支持捕捉 USB4 80Gb/s Gen 4 (PAM3)、Gen 3、Gen 2，以及传统 USB 和电源传输，以查看端到端主机、集线器和设备操作。

交钥匙设备使用户能够测试其 CFexpress A 型和 B 型媒体卡是否符合 CFA VPG-5 合规性。

我们的工程师帮助开发了一些行业的关键技术，并对改进产品和分享知识充满热情。这种经验和热情可以转化为最高质量的测试和培训服务。