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问题：

解决方案：

“E”型 SPARQ 单元包括一个包含互连 40GHz 机械开关的开关矩阵。 这些开关在 DUT 测量阶段将 TDR 脉冲发生器/采样器和 TDT 采样器路由到端口对，并在测量序列的校准阶段路由到内部 O、S、L、T 标准。 借助开关矩阵，无需断开或重新连接单个适配器或电缆即可进行 OSLT 校准和 S 参数测量。 每个开关的每个位置的额定寿命为 2,000,000 次启动或投掷，相当于约 600,000 次 4 端口测量。 开关的额定寿命基于插入损耗，而不是机械故障。

一个后续常见问题解答是“为什么 SPARQ 不使用固态继电器 (SSR)？” 原因是 SSR 是有源非线性设备，会扭曲通过它们的信号。 它们处于活动状态的事实也使校准过程复杂化； 所有漂移的组件都应位于校准参考平面的后面，这在使用 SSR 时是不可能的。

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（此处列出的所有支持文件都已经过扫描并且没有病毒）