高速串行数据眼图、抖动和噪声分析

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SDA Expert串行数据分析眼图、抖动直方图、抖动频谱以及抖动分解为总抖动、随机抖动和确定性抖动

简化的串行数据专业分析软件

SDA Expert 串行数据分析软件是首款内置技术专长的眼图和抖动分析软件包。它简化了设置，并通过针对 PCI Express、USB、DisplayPort 等技术的定制化分析，扩展了调试功能。

  • PCI Express 定制技术分析®， USB， Thunderbolt™，DisplayPort®， 和更多
  • 更完整的串行数据分析工具箱
  • 复杂测量的最高置信度

简化的串行数据专业分析软件

首款内置专业技术的串行数据软件。采用全新技术框架，简化设置并扩展调试功能。

SDA Expert 串行数据分析软件比较两个眼图 USB4 和 USB4 USB-Type-C 接口上的特定抖动测量

针对 PCI Express、USB、DisplayPort 等技术的定制化技术分析

  • 内置特定技术的测量专业知识
  • 从合规性无缝过渡到调试
  • 直观的测量选择可节省时间并避免错误
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SDA Expert 串行数据分析 NRZ 眼图、抖动直方图、抖动轨迹、抖动 FFT 以及随机、确定性和总抖动测量

更完整的串行数据分析工具箱

  • 第四代工具集完全满足NRZ和PAM信号的需求。
  • 整合了所有功能——抖动、噪声、串扰、均衡和脉冲响应
  • 独特的多视图支持，具备参考和比较模式
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SDA Expert 串行数据分析通过去嵌入通道并使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器来比较四种眼图和抖动场景

对复杂测量的最高信心

  • 一键设置可节省设置时间并避免错误
  • 技术选择简化了复杂测量的设置。
  • 使用内置报表生成器快速记录结果并保存数据
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针对 PCI Express、USB、DisplayPort 等技术的定制化分析

SDA Expert 技术框架提供了针对每项技术所需的全部工具，以便在合规性测试之外轻松快速地进行调试。

SDA Expert 串行数据分析软件展示了 PCIe Gen6 技术框架示例
SDA Expert 内置专用调试和测量功能，在技术选择菜单中显示 USB
SDA Expert 内置了一系列标准测试点，例如 USB3.2, USB4, Thunderbolt、PCIe 和 DisplayPort，可轻松进行链路分析
SDA Expert串行数据分析软件显示 PCIe Gen6 信号的眼图以及 PCIe Gen6 特定测量参数和阶跃响应

技术架构

技术选项简化

测试点

测量

借助泰科电子的 SDA Expert 技术框架，加快调试速度。获取您所需的所有调试分析功能，这些功能通常仅在合规性软件包中提供。

  • 来自技术专家的技术设计
  • 易于设置且随时可用
  • 针对外部合规性测试的调试进行了优化

只需选择正在测试的技术，即可获得特定于该技术的测量结果，这些结果会按照技术标准文件中的描述进行标记，并满足该标准的具体要求。

  • 预定义的技术框架及附加选项简化了测量设置。
  • 受益于内置的专业知识
  • 获取您的应用程序所需的所有工具

SDA Expert 串行数据分析提供了测量标准中定义的测试点所需的所有工具，即使这些测试点和/或通道没有直接的物理存在。

  • 通道和测试点设置的动态图形可视化
  • 预定义的测试点简化了设置并避免了错误
  • 内置嵌入/去嵌入和均衡

许多标准都有特定的测量参数和分析要求。SDA Expert 串行数据分析工具将所有这些要求集成在一个针对调试优化的工具中。

  • 符合标准规范
  • 针对调试进行了优化
  • 简单的测量选项可节省时间并避免错误

技术框架 USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express、DisplayPort、50G/100G 以太网

泰科电子已将其数十年的经验与行业标准相结合，融入到 SDA Expert 串行数据分析软件中。借助全新的技术框架，将您的数据分析提升到一个新的水平。

SDA Expert串行数据分析软件显示 USB3.2。 USB-C 型接口上测量的眼图、抖动和眼图参数
SDA Expert串行数据分析软件显示 USB4。 USB-C 型接口上测量的眼图、抖动和眼图参数
显示 DisplayPort 的 SDA Expert 串行数据分析软件。 USB-C 型接口上测量的眼图、抖动和眼图参数
SDA Expert PCIe 6.0 转换直方图，包括抖动细分，例如 Rj、udjdd、utj、dj 和 tj
50G 以太网 PAM4 眼图及符号间干扰 (ISI) 图

USB3.2

USB4 & Thunderbolt

DisplayPort

PCI Express(PCIe)

50G/100G 以太网

在 SDA Expert 软件中，只需轻触一个按钮即可访问 DisplayPort CTS（合规性测试规范）中定义的 USB-C 技术特定测量值。

  • 易于配置的测试点设置
  • 全面的眼图、抖动和其他 USB-C PHY 测量
  • 简单而强大的均衡分析
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USB-C 技术特定测量定义在 USB4 和 Thunderbolt 在 SDA Expert 软件中，只需轻触一个按钮即可访问 CTS（合规性测试规范）。

  • 易于配置的测试点设置
  • 全面的眼图、抖动和其他 USB-C PHY 测量
  • 简单而强大的均衡分析
了解更多信息

在 SDA Expert 软件中，只需轻触一个按钮即可访问 DisplayPort CTS（合规性测试规范）中定义的 USB-C 技术特定测量值。

  • 易于配置的测试点设置
  • 全面的眼图、抖动和其他 USB-C PHY 测量
  • 简单而强大的均衡分析
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PCI Express 6.0 引入了 PAM4 特有的抖动测量方法，因此 SDA Expert 成为表征 PCIe 发送器的理想工具包。

  • 将抖动测量组成分解为 52-UI 抖动测量模式中的 48 个转换、12 个电压电平转换或一组聚合的抖动测量值。
  • 52-UI抖动测量模式中48个转换的转换直方图
  • 52 个测量表结果均与其各自的转换直方图锁定。
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对 50G/100G 以太网电信号进行基本特性分析

  • 眼图和测量，例如眼高和眼宽
  • 发射机均衡 (TxEQ) 测量
  • 利用时钟数据恢复进行抖动测量
  • 信噪比和失真比 (SNDR) 以及电平失配比 (RLM) 测量
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更完整的串行数据分析工具箱

SDA Expert 串行数据分析选项提供了进行任何高速串行数据 NRZ 或 PAM 眼图、抖动或噪声测量所需的所有工具。

SDA Expert NRZ 眼图、抖动直方图、抖动轨迹、抖动 FFT 和随机、确定性抖动以及眼图参数
SDA Expert 显示 PAM4 信号的眼图并测量 SNDR、RLM 以及抖动和眼图参数
SDA专家口罩测试展示
SDA Expert 将噪声显示为轨迹函数、直方图和频域，并测量、推断和分解垂直噪声
从 TP1 到 TP2 解嵌夹具和测试电缆，或使用 S 参数和 SDA Expert 模拟 TP3 处的通道
SDA 专家通过眼图和抖动、嵌入和去嵌入通道以及使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器来比较四种场景

NRZ

PAMn

口罩测试和PLL

噪声/串扰

去嵌入/均衡

多视图

SDA Expert 串行数据软件选项提供最全面的NRZ抖动分解、眼图和分析工具，以及用于仿真、去嵌入和均衡仿真的高级信号完整性工具。

  • 第四代工具集涵盖了 NRZ 信号的完整需求
  • 整合了所有功能——抖动、噪声、串扰、均衡和脉冲响应
  • 全面的抖动分解和分析

SDA Expert 串行数据分析软件选项提供全面的 PAM3 和 PAM4 眼图、抖动和噪声测量，用于分析多级 PAM 信号每次眼图打开时的随机、确定性和周期性损伤。

  • 完整的 SNDR 和 RLM 分析
  • 强大的可视化工具，用于识别意外噪声和失真成分
  • 全面的抖动和噪声分解能力

掩码测试是分析NRZ信号完整性的最简便工具之一。SDA Expert拥有庞大的掩码及其对应PLL设置的集成数据库，并允许用户灵活地添加自定义定义。

  • 超过 100 个预定义的标准，包含掩码和 PLL 设置
  • 可轻松增强定制口罩功能或添加新标准
  • 灵活的PLL设置，例如频率、JTF或OJTF定义

使用 SDA Expert 串行数据分析软件，您可以获得一套完整的垂直噪声测量和串扰分析工具，以进行完整的攻击者/受害者分析。

  • 噪声轨迹、直方图和频谱，提供了对垂直噪声的深入了解
  • LaneScape 比较模式可在多个通道上生成串扰眼
  • 创新的串扰眼轮廓图显示了过量噪声的影响

借助 SDA Expert 串行数据分析软件，您可以快速表征从发射机到接收机的整个信号路径，在便捷的测试点捕获高保真波形，然后轻松地分析任意感兴趣点的信号。

  • 去嵌夹具和测试电缆
  • 模拟现实世界的通道损耗
  • 模拟发射机和接收机均衡
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SDA Expert串行数据分析软件的多种视图和参考分析功能可快速识别差异并加快调试速度。

  • 使用参考通道进行多场景测试
  • 同时测量多个通道
  • 多点、多配置分析

分析整个链接

快速表征从发射机到接收机的整个信号路径，在方便的测试点获取高保真波形，然后轻松分析任何感兴趣点的信号。

使用从 TP1 到 TP2 的夹具和测试电缆的去嵌入 WavePulser 40iX S 参数和 SDA Expert 串行数据分析工具箱。
使用 TP2 到 TP3 模拟真实世界的信道损耗 WavePulser 40iX S 参数和 SDA Expert 串行数据分析工具箱。
通过在 TP1 处探测并在 TP3 处使用仿真来仿真发射机和接收机均衡 WavePulser 40iX SDA Expert串行数据分析工具集中的S参数
WavePulser 40iX 高速互连分析仪在串行数据通道上执行矢量网络分析仪 (VNA) S 参数测量

去嵌入

模拟通道损耗

模拟均衡

测量 S 参数

为了进行精确的高速串行数据抖动和眼图测量，通常需要对串行数据测试夹具和电缆进行去嵌入处理。Teledyne LeCroy 的 SDAX-COMPLETE 版本的 SDA Expert 串行数据分析软件内置了此功能。

  • 使用测量 S 参数模型 WavePulser 40iX或者从其他测量或仿真工具导入
  • SDA Expert 的先进工具能够轻松准确地消除夹具和电缆对采集到的示波器波形的影响。
  • 将完整的 SDA Expert Compete 工具包应用于去嵌入波形，即可直接在被测器件的输出引脚上进行完整的眼图、抖动和噪声分析。

高速串行数据通道存在损耗，在进行眼图和抖动测量时必须考虑这些损耗。泰莱克罗伊公司的SDAX-COMPLETE版本的SDA Expert串行数据分析软件内置了此功能。

  • 通道模型 s 参数文件可以轻松地从 WavePulser 40iX 或在示波器的其他地方进入 SDA Expert
  • 采集信号路径中任意点的波形，然后使用 VirtualProbe 干净地嵌入通道的效果
  • 利用 SDA Expert Complete 的全面分析功能，同时比较多个测试点的眼动、抖动和噪声测量结果。

高速串行数据发送器会在输出引脚上应用加重或去加重，以补偿信道损耗。高速串行数据接收器会应用均衡来补偿发送器的加重/去加重。Teledyne LeCroy 的 SDAX-COMPLETE 版 SDA Expert 串行数据分析软件内置了模拟串行数据发送器和接收器上所有常见均衡设置的功能，包括：

  • 发射机加重/去加重
  • 接收器FFE
  • 接收器CTLE
  • 接收器DFE

WavePulser 40iX 高速互连分析仪只需一次采集即可在频域和时域中提供串行数据通道无与伦比的表征信息。

  • 测量 S 参数（如 VNA）
  • 测量阻抗曲线（如 TDR）
  • 结果的去嵌入、模拟、模拟和时间门控
  • 无需校准
  • 成本仅为 VNA 价格的一小部分
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对复杂测量的更高置信度

SDA Expert 串行数据分析在提供最高置信度的同时，也兼顾了简洁性和易用性。

使用一个按钮而不是使用复杂的向导来配置 SDA Expert 串行数据分析软件，进行去嵌入和均衡
SDA Expert内置专用调试和测量功能，可通过技术选择菜单轻松解决
SDA Expert 串行数据分析软件具有内置报告功能，只需按一下按钮即可保存设置、原始数据和报告，以便对 NRZ 和 PAM 信号进行各种抖动和串行数据分析
SDA Expert 串行数据分析软件简化的图形用户界面

一键设置

技术选择变得简单

内置报告生成器

简化的界面

信赖SDA Expert串行数据分析软件的专业技术，使用一键式操作，无需费力地使用向导。

  • 一键设置，无需复杂的向导
  • 优化以节省设置时间
  • 显示相关的抖动视图和眼图

利用 SDA Expert 系列数据分析软件的专业知识，只需点击几下即可开始分析。

  • 预定义技术框架简化设置
  • 受益于内置的专业知识
  • 获取您的应用程序所需的所有工具

SDA Expert 串行数据分析软件的报告功能可保存您的数据以供将来分析，并一键生成综合报告。

  • 同时保存数据、设置和创建报告
  • 稍后使用 MAUI Studio 在工作范围内或离线状态下分析了存储的数据。
  • 生成一份包含所有相关设置以及信息丰富的屏幕截图的报告。

借助优化的简洁图形用户界面 (UI) 和清晰易懂的图标，轻松管理设置并节省时间。通过状态信息，获取有关缺失或错误设置的实用信息。

  • 图标使您可以轻松找到所需的功能
  • 简化的图形用户界面有助于调整设置顺序
  • 状态栏提供有关丢失或不正确设置的信息

串行数据眼图和抖动分析对比 – 泰科电子、是德科技、泰克科技

Teledyne LeCroy SDA Expert 拥有独特的技术专用功能，并且直观易用。相比之下，Keysight 和 Tektronix 的串行数据眼图和抖动分析软件需要购买多个组件才能获得与 SDAX-COMPLETE 相同的功能。

NRZ
眼图和眼测量
抖动测量、轨迹、直方图、频谱
脉冲响应和 Tx EQ

PAMn
眼图和眼测量
抖动测量、跟踪、直方图
脉冲响应、Tx EQ 和 SNDR

噪声/串扰
噪声测量、轨迹、直方图、频谱
串扰眼图叠加

嵌入/去嵌入
嵌入/去嵌入
均等化

查看
多视图
参考视图

生产力
图形用户界面
报告生成器
自动测试点设置

特定技术解决方案
PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB 和 Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-完整
（SDAX-PCIE-NRZ）
（SDAX-PCIE-NRZ）
（SDAX-PCIE-NRZ）
（SDAX-PCIE-NRZ）
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
（SDAX-USB4-待定）
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
需要多个选项
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泰克
需要多个选项
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（PAMPPCIE6）
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资源中心

技术文档
网络研讨会
文档名称 文件类型  
SDA 专家数据表

产品规格书

 下载PDF
SDA专家软件使用说明书 下载PDF

用户手册

 下载PDF
配置 SSCTrack 运算符以进行串行数据的扩频时钟解调

本应用说明概述了如何配置 SSCTrack 数学运算符设置，以执行串行数据波形的扩频时钟解调。

应用笔记

 下载PDF

Jitter 大学网络研讨会系列

对抖动感到困惑？别人对抖动的解释是否让你更加疑惑？如果是这样，那就加入泰莱克罗伊（Teledyne LeCroy）吧，我们将为你讲解关于抖动的一切——抖动的定义、不同的类别、使用的仪器、测量和视图、反卷积和外推等等。

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第一部分 - 抖动简介

在本课程中，我们将提供抖动的基本定义和类别，描述历史上和目前用于测量抖动的仪器类型，以及抖动测量仪器的优点和缺点。

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第二部分——了解边缘抖动

本节将通过实例演示如何使用由一个或两个边沿组成的采集数据来测量抖动。我们将介绍各种测量技术及其发展历程，并探讨仪器对抖动测量精度的影响。

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第三部分——从长远角度看待抖动

本次课程中，我们将利用现代数字示波器，更快、更准确地进行抖动测量。我们还将计算统计数据，查看数据集的直方图，并观察抖动如何随时间或频率变化，从而更好地理解潜在的抖动问题。

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第四部分 – 抖动调试和测量实例

在本环节中，我们将介绍抖动频谱分析作为调试工具，并提供其他使用示波器中的统计和时域分析工具来发现抖动问题根本原因的实际示例。

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第五部分——串行数据抖动测量的基础知识

在本课程中，我们将提供抖动的基本定义和类别，描述历史上和目前用于测量抖动的仪器类型，以及抖动测量仪器的优点和缺点。

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第六部分——串行数据抖动分离、外推和抖动视图

本节将介绍给定误码率下的总抖动 (Tj@BER) 及其如何利用外推模型从时间间隔误差 (TIE) 测量中导出。我们将解释随机抖动 (Rj) 和确定性抖动 (Dj) 的分离，并进一步阐述 Dj 分离为数据相关抖动 (DDj)、占空比失真 (DCD)、码间干扰 (ISI)、有界非相关抖动 (BUj) 和周期性抖动 (Pj)，并提供示例。

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第七部分——串行数据抖动测量高级课程

在本环节中，我们将深入探讨各种测量和外推的抖动视图，并以眼图的形式解释串行数据链路裕量中抖动的统计视图和时变视图。

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如何使用示波器对串行数据链路进行解嵌和仿真

加入泰科电子（Teledyne LeCroy）的研讨会，了解高速串行数据链路、互连线、通道和示波器探头的各种示波器去嵌入和嵌入/仿真技术。我们将探讨高带宽示波器中常用的各种工具，例如使用S参数测量文件或电路模型进行去嵌入和仿真。

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如何在频域和时域中解嵌互连元件

欢迎参加泰科电子（Teledyne LeCroy）的研讨会，我们将介绍并演示如何从串行数据链路和其他信号完整性测量中去除测试夹具、电缆和探头的嵌入效应。这是确保被测设备（DUT）的信号完整性测量不受互连元件污染的关键步骤。

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高速串行数据信号完整性、抖动分析、探针去嵌入

本次网络研讨会将讲解如何调试高速串行数据信号完整性、均衡、抖动测量、嵌入和解嵌入互连和探针。

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高速串行数据调试与分析

本次研讨会将讲解如何调试高速串行数据信号完整性、均衡、抖动测量、嵌入和解嵌入互连和探针。

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如何加速和改进 16+ Gb/s 串行数据发送器/接收器的测试和调试

本次网络研讨会将概述使用高速串行数据发送器进行的典型测试。 USB4 举例来说，我们将合成一个高速串行数据信号，使用实时示波器在虚拟接收器处分析该信号，并将虚拟接收信号与实际信号进行比较。我们将回顾信号完整性裕度分析和抖动、眼图、等误码率 (IsoBER) 轮廓和串扰眼图测量。

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高速串行数据互连特性分析基础网络研讨会

加入泰科电子（Teledyne LeCroy）的研讨会，深入了解高速串行数据互连对电路设计的影响。我们将探讨S参数和阻抗特性及其解读方法，并使用S参数文件对通过采样通道的差分信号进行眼图和抖动测量。

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